| 참조번호 | 품목분류4과-1520 |
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| 시행일자 | 2025-04-02 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9030.90-1000 |
| 품명 | Wafer Level Burn-In Tester; Ostinato GB-34; |
| 물품설명 |
- 개요 : Wafer Level Burn-In 장비*에 장착되어 Wafer에 간접적으로 열을 가하고 전압을 발생시켜 특성을 측정하는 기기 * 본체는 웨이퍼 상태에서 고온의 조건하에 전압을 인가하여 전류측정 등을 통해 초기 불량 검출, 고장 매커니즘 조기 유도를 위한 테스트 장비임 - 작동방식 ① 전압 발생 및 측정 : Tester 내부에 있는 Site Board에서 전압을 공급 → 생성된 전압은 Pogo pin을 통해 Probe Card까지 전달 → Site Board내에 있는 Shunt 저항*을 통해 전류를 측정 * 회로 전류를 검출하는데 사용되는 저항 ② 열 발생 : 열 발생부는 Tester 후면에 있는 Chuck이며 Chuck에는 실린더가 있어 Wafer Pack과 접촉하여 열을 전달* * Wafer에 간접적으로 열을 가하는 역할을 하며 최대 175도까지 올릴 수 있어 고온 환경에서 반도체 소자를 작동시킴 - 크기 : W 1274 * D 859 * H 106 |
| 결정사유 |
- 관세율표 제90류 주 “2. 주 제1호에서 규정한 것을 제외하고는 이 류의 기기의 부분품과 부속품은 다음 각 목의 규정에 따라 분류한다. (중략) 나. 그 밖의 부분품과 부속품으로서 특정한 기기나 동일한 호에 해당하는 여러 종류의 기기(제9010호ㆍ제9013호ㆍ제9031호의 기기를 포함한다)에 전용되거나 주로 사용되는 것은 해당 기기와 함께 분류한다.”라고 규정하고 있음 - 관세율표 제9030호에는 “오실로스코프(Oscilloscope)ㆍ스펙트럼 분석기와 그 밖의 전기적 양의 측정용이나 검사용 기기(제9028호의 것은 제외한다), 알파선ㆍ베타선ㆍ감마선ㆍ엑스선ㆍ우주선이나 그 밖의 전리선의 검사용이나 검출용 기기”가 분류되고, 소호 제9030.82호에 “그 밖의 기기; 반도체 웨이퍼나 소자(집적회로를 포함한다)의 측정용이나 검사용”을 세분류하고 있음 - 본체는 웨이퍼 상태에서 고온의 조건하에 전압을 인가하여 전류측정 등을 통해 초기 불량 검출, 고장 매커니즘 조기 유도를 위한 테스트 장비이므로 소호 제9030.82에 해당함 - 따라서, 본 물품은 Wafer Level Burn-In 장비에 장착되어, 전압 발생 및 측정과 열 발생 기능을 가진 반도체 소자의 측정용이나 검사용 기기에 전용되는 부분품에 해당하므로 관세율표의 해석에 관한 통칙 제1호 및 제6호에 따라 제9030.90-1000호에 분류함 |
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