| 참조번호 | 품목분류3과-503 |
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| 시행일자 | 2016-02-18 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9030.90-1000 |
| 품명 | Probe Card; 한국 |
| 물품설명 |
ㅇ 물품개요
- 반도체 웨이퍼의 전기적 특성을 검사하여 양·불량을 검사하는 Wafer Tester System에 장착되어 - 프로브 카드에 탑재 된 핀이 웨이퍼와 접촉하면서 Wafer(Chip)의 양·불량을 판단할 수 있도록 전기적인 신호를 인가하는 물품임(프로브 카드만 제시) ㅇ 요소 및 기능 ① ZIF: Tester와 Probe Card의 연결 접속단자 ② 기구물: Ceramic과 PCB의 조립 이후 평탄도 확보를 위한 기구물 ③ Ceramic: Probe를 Bonding하는 Substrate(핀 탑재) ④ PCB: ZIF에서 신호를 인가받아 Ceramic으로 연결하는 Interface ㅇ 측정원리 - Tester로부터 전기적 신호를 수신 받아 프로브 핀이 웨이퍼와 접촉하여 웨이퍼에 전기를 인가하여 되돌아오는 전기적 신호에 따라 양·불량 선별 |
| 결정사유 |
ㅇ 관세율표 제90류 제2(나)호에서 “부분품과 부속품으로서 특정한 기기나 동일한 호에 해당하는 여러 종류의 기기에 전용되거나 주로 사용되는 것은 해당 기기와 함께 분류한다.”고 규정하고 있음.
ㅇ 관세율표 제9030호에 “오실로스코우프ㆍ스펙트럼분석기와 기타 전기적 양의 측정 또는 검사용의 기기(제9028호의 것을 제외한다) 및 …(중략)… 기타 전리선의 검사 또는 검출용의 기기”가 분류되고 - 같은 호 해설서에 다양한 전기적 량의 측정 또는 검사용기기를 예시하고 있고, - 관세율표 제9030.82호에 “반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것"을 특게하고 있음. ㅇ 따라서 본 물품은 Wafer Tester System에 장착되어 Wafer(Chip)의 양·불량을 판단할 수 있도록 전기적인 신호를 인가하는 제9030.82호의 것에 전용되도록 제작된 부분품이므로 관세율표 해석에 관한 통칙 제1호(제90류 주2(나)호·주3호, 제9030호의 용어) 및 제6호에 의거 제9030.90-1000호에 분류함. |
| 이미지건수 | 1 |
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