| 참조번호 | 품목분류3과-2555 |
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| 시행일자 | 2015-09-15 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | ①②③ 9031.41-9000 ④ 9027.30-1000 ⑤ 9030.82-0000 |
| 품명 | 태양전지 품질 측정기, VISION TESTER |
| 물품설명 |
○ 물품개요
태양전지(Cell)의 제조공정중 마지막 단계에서 품질을 검사하여 등급별로 분류 하는 장비로서 검사 순서별로 Rear, Front, Color, Spectro, IV Test 장비들이 컨베이어, 통신케이블 등에 의하여 상호연결 되어 있는 형태 ○ 구성요소 및 기능 ① REAR PRINT INSPECTOR (모델명 : VCORM1) : Cell 후면 전극의 프린팅 상태를 검사하는 공정으로 카메라로 촬영하여 양/불량을 판별함 (4M Pixel CMOS Matrix Camera, 5stage LED로 구성) ② FRONT PRINT INSPECTOR(모델명 : VCLCM2) : Cell 전면 전극의 프린팅 상태를 검사하는 공정으로 카메라로 촬영하여 양/불량을 판별함 (64M Pixel Line-scan Camera, 상하LED로 구성) ③ COLOR SORTER (모델명 : VCLCM2): Cell의 ARC(Anti Reflection Coating, 반사방지막 코팅)의 상태를 검사하는 공정으로 카메라로 촬영하여 Cell의 전면 색조 상태에 따라 등급을 분류함(4M Pixel Color camera, 상하부 LED로 구성) ④ SPECTRO METER (모델명 : VCLSM1): 효율을 높이기 위하여 반사방지막이 코팅된 Wafer 전면의 코팅 균일성을 측정하는 공정으로 분광기를 이용하여 자외선을 Cell에 조사하여 빛의 반사율을 측정하는 장비 (Tec5 UV/ VIS/NIR Spectrometer로 구성) ⑤ IV TESTER (모델명 : PSS 10 HE): Cell의 광효율(성능)을 측정하는 공정으로 태양광(발전기)을 Cell에 조사하여 태양전지의 특성(출력 전류, 전압값)을 측정하여 등급별 구분함(Generator, Xenon Flash, Monitor cell, Measuring load deviceC IR camera, EL camera로 구성) |
| 결정사유 |
○ 관세율표 제90류 주 3에서는 “제16부 주 제3호 및 제4호는 이 류에도 적용한다”라고 규정하고 있으며
○ 관세율표 제16부 주4 및 같은 호 해설서 제16부 총설 (VII)의 Functional Units에서는 ”명백히 한정된 단일 기능을 함께 수행하도록 고안된 것" 이라 함은 전체로서의 Functional Unit가 본질적으로 그 특유한 기능을 수행 하는 기계와 복합기계만을 포함한다. 그러므로 보조적 기능을 수행하는 기기와 전체의 기능을 수행하지 않는 기기는 제외한다”고 해설하고 있는 바, - 본 품은 각종의 개별기기가 컨베이어, 통신케이블 등에 의하여 상호연결 되어 있는 형태이나 태양전지(Cell)의 표면상태를 측정 및 빛 반사율측정, 전지의 특성(전류, 전압값)을 측정하는 장비들로 구성된 것으로 전체로서 명백히 한정된 단일기능을 함께 수행하도록 고안된 것으로 볼 수 없으므로 각각 해당 하는 호에 분류하는 것이 타당함 ㅇ 관세율표 제90류에는 “측정기기, 검사기기, 정밀기기와 의료용기기 및 이들의 부분품과 부속품” 등이 분류되며 관세율표해설서 제90류 총설 (Ⅰ)에 이류에는 일반적으로 높은 완성가공도와 정도에 의하여 특정지어지는 각종기기가 분류 된다고 해설하면서 “(F) 대부분의 측정용 검사용의 기기”가 포함된다고 열거하고 있음 ㅇ 따라서 신청물품 중 ①,②,③는 카메라를 사용하여 웨이퍼 검사(표면 전극프린팅 상태, 반사방지막 코팅상태)를 측정하는 것으로 “기타 광학식의 반도체 웨이퍼 검사용 기기”로 보아 제9031.41-9000호에 분류하며, ④는 웨이퍼의 코팅 균일성을 분광계(NIR Spectromete)의 원리를 이용하여 빛 반사율을 측정하는 장비로서“분광계”로 보아 제9027.30-1000호에 ⑤는 태양광(발전기)을 Cell에 조사하여 태양전지의 특성(전류, 전압값 등)을 측정하여 반도체의 등급별로 분류하는 장비로서 “반도체웨이퍼 검사용 기기”로 보아 제9032.82-0000호에 분류함 |
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