| 참조번호 | 품목분류1과-422 |
|---|---|
| 시행일자 | 2015-04-02 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9030.82-0000 |
| 품명 | MEMORY TESTER(T5386) |
| 물품설명 |
ㅇ 물품개요
- WAFER상의 MEMORY DEVICE의 전기적 특성(전류, 전압, 파형 등)을 검사, 기준값과 비교하여 양·불량을 테스트하는 장비로 TESTER HEAD와 POWER, DC UNIT, FRAME, PC, MONITOR 등 본체의 모든 구성품이 미조립 상태로 제시된 물품 - Target Device : DRAM, SDRAM, DDR devices, SRAM, Flash memory ㅇ 주요 구성요소 - 2 TESTER HEAD : TESTER 내부의 각 Channel board에 연결된 Pin을 통해 로딩된 DEVICE에 전기적 신호를 인가(768개/tester head) - 전원공급장치 : DEVICE 전원 인가용 - DC UNIT : 전류, 전압 측정(64UNIT/tester head) - DRIVER : 전기적 파형 발생(72CHANNEL/tester head) - PC(EWS), MONITOR : 측정 및 제어 프로그램을 내장하고 양·불량여부와 Repair 가능 여부 판정 및 디스플레이 |
| 결정사유 |
ㅇ 관세율표 해석에 관한 통칙 2(가)는 “각 호에 열거된 물품에는 … 미조립 또는 분해된 상태에서 제시된 물품도 완전 또는 완성된 물품에 포함되는 것으로 본다.”라고 규정함
ㅇ 관세율표 제9030호의 용어는 ‘전기적 양의 측정용이나 검사용 기기’를 규정하고 제9030.82소호는 기타의 기기 중 ‘반도체 웨이퍼나 소자의 측정용이나 검사용’기기를 규정하며 ㅇ ITA(Information Technology Agreement : 정보기술협정) Attachment A Section 2에 “반도체 웨이퍼 또는 소자를 측정 또는 검사하는 기기(Instrument and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices)"가 게기되어 있고 우리나라는 이를 수용하여 제9030.82-0000호로 양허하였음 ㅇ 본 물품은 반도체 웨이퍼에 전기적 신호를 인가하여 전압, 전류 등 전기적 양을 측정함으로써 반도체의 양·불량 여부를 검사하는 장비의 모든 구성품이 미조립으로 제시된 물품으로 ‘반도체 웨이퍼나 소자의 검사용 물품’에 해당하므로 관세율표 해석에 관한 통칙 제1호, 제2호 및 제6호에 의거 HSK 제9030.82-0000호에 분류함 |
| 이미지건수 | 1 |
| 관련 이미지 |
|