| 참조번호 | 품목분류3과-984 |
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| 시행일자 | 2014-04-15 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9030.82-0000 |
| 품명 | SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT, ULTRAFLEX SC |
| 물품설명 |
- 반도체 웨이퍼나 디바이스(Package)의 전기적 특성(전압, 전류 등)을 테스트하여 제품의 양·불량을 검사하는 장비
- 크게 Support Cabinet, Manipulator Cabinet, Test Head 부분으로 구성 ① Support Cabinet : Test Head와 Manipulator 컨트롤부, Test Head의 냉각을 위한 공냉/수냉장치, 기기에 전원을 공급해주는 Power unit 등이 설치 ② Manipulator Cabinet : Test Head부를 상하좌우로 이동 및 지지해 주며, Test Head의 데워진 공기를 빨아들이기 위한 임펠러가 설치 ③ Test Head : 반도체 웨이퍼나 디바이스(Package)의 전기적 특성을 측정하는 부분으로, 전기적 신호를 인가해주는 보드, 측정값을 PC로 전송해주는 보드 등이 장착 <측정항목> - O/S test : 반도체 디바이스의 내부 wire 간의 open, short 점검 - DC test : 반도체 디바이스의 직류 전압, 전류의 크기 및 상한·하한값을 측정 - AC test : 반도체 디바이스의 교류 신호 크기 및 주파수, 노이즈 값을 측정 - Functional test : 반도체 디바이스의 기본 기능의 동작을 점검 |
| 결정사유 |
- 관세율표 제9030호에는 “… 그 밖의 전기적 양의 측정용이나 검사용 기기(제9028호의 것은 제외한다), … ”가 분류되고, 제9030.82호에는 ‘반도체 웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것’이 분류됨
- 같은 호 해설에서 ‘전기량 측정의 주요한 형으로, (Ⅰ)전류의 측정, (Ⅱ)전압의 측정, (Ⅲ)저항 및 전도율의 측정, (?)재료의 전기적 특성 및 자기적 특성의 측정’ 등을 예시하고 있음 - 따라서, 본 물품은 반도체 웨이퍼나 디바이스의 전압, 전류 등 전기적 특성을 측정하는 기기에 해당하므로, 관세율표 해석에 관한 통칙 제1호 및 제6호에 따라 제9030.82-0000호에 분류함 |
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