| 참조번호 | 품목분류2과-2258 |
|---|---|
| 시행일자 | 2014-03-27 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9030.90-1000 |
| 품명 | Parts for measuring or checking semiconductor wafers or devices; A Plate; JAPAN |
| 물품설명 |
반도체 웨이퍼를 검사할 때 사용하는 EDS Tester를 구성하는 검사기기 중 Probe card 하단부에 결합 되어지는 A'ssy로서 Ceremic 재질의 원형판상에 미세 하게 홀 가공 되어 있는 물품
- 용도 : Probe Card와 Wafer에 전기적 신호를 전달해주는 Probe Tip의 고정 및 Guide 기능 수행 |
| 결정사유 |
- 관세율표 제16부 주1에서는 제90류의 물품을 제외하도록 규정하고 있으며, 제90류 주2에서는 “주 제1호에서 규정한 바를 제외하고는 이 류의 기기의 부분품과 부속품은 다음의 규정에 따라 분류한다. 나. 기타의 부분품과 부속품으로서 특정한 기기 또는 동일한 호에 해당하는 여러 종류의 기기에 전용 또는 주로 사용되는 것은 해당 기기와 함께 분류한다.”라고 규정하고 있음
- 제9030호의 용어는 “오실로스코우프·스펙트럼분석기와 기타 전기적 양의 측정 또는 검사용의 기기 및 알파선·베타선·감마선·엑스선·우주선 또는 기타 전리선의 검사 또는 검출용의 기기”를 분류하고 있음 - 또한, 동 호 해설서에서‘기타 전기적 양의 측정 또는 검사용의 기기’에 대하여 설명하면서, 전류·전압·저항·전력 등 다양한 목적의 전기적 양 측정기기에 대하여 해설하고 있으며 - 관세율표 제9030.82호에 “반도체 웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용 기기’를 게기하며, 동 물품의 부분품과 부속품은 제9030.90호에 분류됨 - 본건 물품은 반도체 웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 기기인 EDS Tester를 구성하는 Probe card 하단부에 결합 되어지는 물품으로, 특정 형상의 반도체 웨이퍼만을 검사하기 위하여 맞추어 설계.제작된 물품임 - 따라서 본 물품은 반도체 웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 기기의 부분품에 해당하므로 관세율표 해석에 관한 통칙 1호 및 6호에 의거 제9030.90-1000에 분류함 |
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