| 참조번호 | 품목분류1과-575 |
|---|---|
| 시행일자 | 2011-07-06 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 제9031.41-9000호 |
| 품명 | Electroluminescence Images Inspection Machine; PVE1020i-MTW |
| 물품설명 |
□ 기능 및 용도
태양전지 판넬 결정질 셀에 전기를 인가하여 발광하는 현상을 고해상도의 IR(적외선) 카메라를 이용하여 발광 이미지 데이터를 비교 검토함으로써 태양전지 내 부 결함을 검사하는 장비 □ 측정사항 미세 크랙 조사, 내부 전도성 검사(내부저항, 전극인쇄상태, 이물질 등에 의해 발광 분포 차이 발생, 접촉불량. 내부결함검출), HOT-SPOT 검사 (역방향 인가 EL측정, 누설점 검출, 이물질에 의한 P-N Junction 손실) |
| 결정사유 |
ㅇ 관세율표 제9031호의 용어에 “기타의 측정 검사용의 기기”를 규정하고 있고
- 동 해설서에 “이 호에는 광학식 측정 및 검사기구도 포함한다”고 해설하면서 동호에 분류되는 것으로써 “(5) 광학식 표면검사기 : 프리즘과 렌즈의 결합에 의하여 표면의 상태, (6) 광학적관측기를 갖춘 장치 : 윤곽 및 표면의 상태를 사진으로 기록 측정하는 것”를 예시 ㅇ 따라서 본품은 제8541호에 분류되는 태양전지 판넬 셀에 전기를 인가하여 발광하는 현상을 고해상도의 IR(적외선) 카메라를 이용하여 발광 이미지 데이터를 비교 검토함으로써 태양전지 내부 결함을 검사하는 반도체 소자(semiconductor device)검사용 광학기기에 해당하므로 관세율표해설에 관한 통칙1(제9031호의 용어) 및 6에 의거 제9031.41-9000호에 분류함. |
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