| 참조번호 | 품목분류과-104497 |
|---|---|
| 시행일자 | 2005-06-15 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | HSK9031.49-9090호에 분류함 |
| 품명 | Micro Component Inspection System(전자부품외관검사장치) : MCIS-1800 |
| 물품설명 | ㅇ 기능 및 검사과정@§ - 진동피더를 사용하여 회전하는 글라스테이블위로 제품공급@§ - CCD이미지 획득 : 회전테이블 위를 돌고 있는 제품의 4 혹은 6면의 이@§미지 획득@§ - 영상처리 : 자체검사 소프트웨어 알고리즘을 이용하여 결함(길이, 폭, @§두께, Body Defects, Solder Defects 등)을 검출하고 양품과 불량품 자동 @§선별@§ - 불량으로 판정된 제품을 공압을 이용하여 배출@§@§ㅇ 검사대상 및 용도@§ - MLCC(적층세라믹콘덴서), Bare-chip, Varistor, Thermister, PTC, @§Inductor 등의 외관(4면 또는 6면)이미지를 CCD카메라찍고 소프트웨어알고@§리즘을 이용하여 양·불량품을 선별 |
| 결정사유 |
ㅇ 이미지를 카메라로 촬영하여 외관의 상태를 측정, 검사하는 것은 빛의 량의 측정·검사나 분석기능이 아니므로 제9027호에 분류될 수 없고 - 관세율표 제90류 주5에 “제9013호 및 제9031호에 동시에 분류될 수 있 는 광학식의 측정용·검사용기기는 제9031호에 분류한다.”고 규정하고 있 음. ㅇ 관세율표해설서 제9031호에는 “기타의 측정 또는 검사용기기”가 분류 되며, 제9031.4호에는 “기타 광학식의 기기”가 분류됨 ㅇ 동해설서 (Ⅰ)측정용 또는 검사용 기기 (A)에서 - (27) 빔의감쇠, 반사법에 의하여 결함을 측정하는 결함검출장비 등 물 품의 외관을 측정 검사하는 기기를 예시하고 있으며 - (B)에서 “이호에는 광학식 측정 및 검사기구도 포함한다”고 해설하면 서 (6) 윤곽 및 표면의 상태를 사진으로 기록 측정하는 장치 등 빛을 이용 한 물품의 외관을 측정 검사하는 기기를 예시하고 있음. ㅇ 쟁점물품이 측정 또는 검사할 수 있는 대상은 반도체웨이퍼, 반도체소 자, 포토마스크 및 레티클만이 아니라 다른 전자부품 등의 결함도 검사할 수 있기 때문에 제9031.41소호가 아닌 제9031.49소호에 분류되어야 하며 - 제9031.49소호 주에 “사람의 시력에 직접 도움을 주거나 또는 시력을 향상시키는 기기뿐만 아니라 광학적인 요소의 사용 또는 과정을 통해 기능 하는 기타 기기도 분류한다”고 규정하고 있으므로 기타 광학식의 측정 또 는 검사용기기로 HSK9031.49-9090호에 분류한다. |
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