| 참조번호 | 품목분류과-104160 |
|---|---|
| 시행일자 | 2005-05-17 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | HSK 9030.82-0000 |
| 품명 | PDP DRIVE IC TESTER ; S230 |
| 물품설명 | ㅇ 기능 및 용도@§@§ PDP Drive IC로 사용되어지는 Wafer(Chip) 또는 Package IC(Chip)의 전@§기적 특성검사를 실시하여 양, 불량을 선별하여 주는 장비@§@§ ㅇ 구성요소 및 구성요소별 기능 @§@§ ① MAIN SYSTEM : MAIN SYSTEM에 저장되어 있는 프로그램에 의해 정해@§진 전기적 신호값(교류/직류 성분의 전압/전류)을 TEST 부품인 @§Wafer/Package IC로 보내어 돌아오는 값(전기량)을 측정하는 곳@§@§ ② Test Head : 메인시스템에서 흘려보낸 전기적 신호값을 Test 하고자 @§하는 IC와 Contact할 수 있도록 하는 곳 @§@§ ③ Terminal : 메인시스템에서 처리할 전기적 측정값을 입력하고 측정@§한 값을 출력하는 곳 |
| 결정사유 |
ㅇ 본 품은 PDP Drive IC로 사용되어지는 Wafer(Chip) 또는 Package IC (Chip)의 전기적 특성검사를 실시하여 양, 불량을 선별하여 주는 장비로서 MAIN SYSTEM, Test Head, Terminal로 구성되어 있으며 ㅇ 측정원리는 Terminal에서 처리할 전기적 측정값을 MAIN SYSTEM으로 보 내고 MAIN SYSTEM에 저장되어 있는 프로그램에 의해 정해진 전기적 신호값 (교류/직류 성분의 전압/전류)을 Test Head에 있는 Wafer/Package IC로 보 내어 돌아오는 값(전기량)을 측정함 ㅇ 제9030호에는 “기타의 전기적 량의 측정 또는 검사용 기기”가 분류되 며, 제9030.82소호에는 “반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것”이 분류되며 ㅇ ITA(Information Technology Agreement : 정보기술협정) Attachent A Section 2에 「반도체 웨이퍼 또는 소자를 측정 또는 검사하는 기기 (Instrument and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices)」가 게기되어 있고 아국에서는 이를 수용하여 HSK9030.82-0000호로 양허 하였음 ㅇ 제90류 주3 “제16부 주4(Functional Unit)의 규정은 이 류에도 적용한 다” 라고 규정하고 있으므로 MAIN SYSTEM, Test Head, Terminal은 함께 분 류함 ㅇ 따라서 본 물품은 wafer상에 전압을 인가하여 출력되는 전기적량으로 서 wafer의 양, 불량을 판정하는 반도체 소자용 검사장비 이므르 HSK9030.82-0000에 분류한다 |
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