| 참조번호 | 품목분류47281-589 |
|---|---|
| 시행일자 | 2003-07-02 |
| 시행기관 | 관세청 |
| 결정세번 | 9030.90-9010 |
| 품명 |
Device Test Interface System
; For Test System(T5365, T5581, T5382, T5585, T5371, J996) |
| 물품설명 |
ㅇ 기능 및 용도
- Package화된 IC 등의 전기적 특성을 검사하기 위한 Tester 시스템(Tester+Tester Head+DTIS+Handler)중 일부분을 구성하는 물품임 - Test Socket이 부착되어 있으며, 동 Socket에 IC 등의 Lead를 Contact시켜 Tester에서 인가되는 신호를 전달하고 그 반응 신호를 Tester에 다시 보내주는 Interface임 ㅇ 위치 : Tester Head 위에 위치 * Tester Head는 Tester와 Handler 중간에 위치하는 것으로 Tester와는 coaxial cable로 연결되며, Test시에는 Handler의 manipulator에 의해 핸들러 내의 IC 등과 전기적 접속을 위해 핸들러 안으로 들어감 ㅇ 구성요소별 기능 ① Base Board : Tester의 Head부분과 Contact되는 부분 ② Socket Board : Test Socket를 장착하여 Tester에서 나오는 신호를 IC 등에 전달하는 역할 ③ Test Socket : Test하고자 하는 IC 등을 DTIS와 Contact할 수 있도록 해주는 역할. 동시에 여러개의 IC 등을 테스트할 수 있도록 다수의 Test socket이 장착됨 ④ Coaxial Cable : Base Board와 Socket Board를 전기적으로 연결하여 Signal을 전달하는 역할 ⑤ Socket Guide : Test Socket에 IC 등이 정확하게 삽입되도록 해주는 Guide 역할 ⑥ Mechnical Part : Base Board, Socket Board 등을 전체적으로 조립하여 Tester에 고정, 유지하기 위한 Part ㅇ 연결 기기 - Tester : DTIS를 통하여 전달된 전기적 신호를 분석하며 IC 등의 양, 불량을 Check하여 명령하달 - Handler : Tester로 부터 IC 등의 양, 불량에 관한 명령을 받아 각각 지시하는 위치로 IC등을 이송 |
| 결정사유 |
ㅇ 본 물품은 기존에 제9030호로 분류결정된 바 있는 “Probe Card”의 기능과 유사한 기능을 수행하는 것임
- 다수의 Socket에 삽입된 IC 등(테스트 대상물품)에 대하여 Tester에서 나오는 신호를 전달하고 그 반응신호를 Tester에 다시 보내주는 역할을 수행하는 것으로, - 다만, “Probe Card”는 Wafer상태에서의 검사를 위한 것이고, 쟁점물품은 Package화된 IC 등의 상태에서 검사를 수행하기 위한 Interface임 ㅇ 한편, 동 물품은 「다수의 Socket+Socket Board+Coaxial Cable +Base Board 등」으로 구성되어 Tester Head와 IC 등과의 접속을 위해 특정형상으로 설계 제작된 물품으로서 제8536호로 기 분류된 테스트 소켓(1개의 소켓으로만 이루어짐)과는 다른 물품임 ㅇ 따라서 본 물품은 테스트시 Tester Head상에 위치하여 테스트 장비와 IC 등을 전기적으로 연결시켜 주는 Interface로서 반도체 소자의 측정용 기기를 함께 구성하도록 특별히 설계제작된 물품이므로 제90류주2나의 규정에 의거 HSK9030.90-9010호에 분류한다. |
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