| 참조번호 | 품목분류47281-619 | ||||
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| 시행일자 | 2003-07-09 | ||||
| 시행기관 | 관세청 | ||||
| 결정세번 | 9030.39-9000 9030.83-0000 | ||||
| 변경내역 |
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| 품명 | Instrument and apparatus for measuring or checking electrical quantities ; Array Tester ; IPT-Series, AC-Series, PDI, USA | ||||
| 물품설명 |
ㅇ LCD제조용에 사용되는 TFT회로의 배열 및 전기적인 결함을 검출 또는 분석하는 기기
ㅇ 평판디스플레이에 프로브(Probe)를 이용하여 각 소자에 전기를 인가한 후, 그 전기적변량을 검출하여 결함을 검출하는 장비 〔결함검출원리〕TFT 판넬에 전기적인 신호를 인가하여 TFT의 Chargng특성을 검사하며, 특성불량, 선불량, 점불량을 검출한다 |
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| 결정사유 |
ㅇ 9030호는“전기적량의 측정 또는 검사용의 기기”로 규정되어 있는 바,
ㅇ TFT 회로의 배열 및 전기적인 결함을 검출 또는 분석하기 위하여 전기파형을 인가한 후 , 그 결과를 광학적신호로 변환하여 이미지프로세싱방법으로 검사하는 기기로 ㅇ 본 기기에서 측정대상체에 인가하는 신호의 값은 기본적으로 전기적량이며 광학적변환과 디지털신호변환은 전기파형을 이미지처리하기 위한 요소에 해당, - 전기적량의 Low/High 값에서 당해기기의 결함은 감지되며, 이를 이미지화하기 위한 광변환과 디지털수치화 과정은 당해기기에 있어 부수적기능에 해당됨 ㅇ 따라서, 본 기기는 TFT회로의 전기적인 결함을 분석하는 전기적량의 측정, 검사용기기로 기록장치가 없는 것은 HSK9030.39-9000호에 기록장치가 있는 것은 HSK9030.83-0000호에 분류한다. |
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| 이미지건수 | 0 | ||||
| 관련 이미지 |