| 참조번호 | 검사분류47281-277 |
|---|---|
| 시행일자 | 1998-06-08 |
| 시행기관 | 관세청 |
| 결정세번 | 8479.89-2099 |
| 품명 |
Memory IC handler;YW-2302, package(TSOP,SOT,QFT);
1940(W) X 1300(D)X 1600(H)mm ; Chamber temp~+125'c ; yeon woo enhineering co R.KOREA |
| 물품설명 |
ㅇ 주요사양
. 대상 디바이스 : MEMORY IC(TSOP,SOJ,QFP) . 처리능력 : 3,000 unit/H . 온도조절범위 : ~ +125℃ . Loader 용량 : tray 30unit . 가열방식 : Heating system(chamber type) → 전기식 ※ 접속테스트기 : HITACHI MEMORY IC TEST SYSTEM (모델: 5060H) → 별도수입 ㅇ Memory IC test system SRAM, DRAM 등으로 대표되는 MEMORY IC는 정보를 기억하는 Cell이 규칙적으로 나열되어 있고, 이것을 시험하기 위해서는 규칙적인 Address의 움직임과 입력 데이터를 시험 Pattern으로서 IC에 부여할 필요가 있음. 이 시험 Pattern을 자동발생시키기 위한 algorithmic pattern 발생기능을 가지고 메모리 IC의 시험을 가능하게 한 것이 Memory Test System임 ◇ 주요구성요소 . Test pattern 발생기 . Timing 발생기 . Format controller . Digital conveyer(논리비교부) . Fail 해석 memory . DC parametric 시험시스템 . 디바이스용 전원 . Pin electrics ㅇ IC Handler 본 물품은 반도체 소자 제조공정중 테스트 공정에 사용되는 장치이며 반도체 소자의 양품,불량품을 선별하여 주는 자동분류기기로서 측정과정을 살펴보면, 조립공정이 끝난 IC가 Tray에 담겨져 측정부분으로 이동하고 로봇 기능에 의해 측정부분인 테스트보드에 적입되며, 피 측정물인 IC에 스트레스를 주기 위하여 챔버속으로 들어간다. 이 챔버속에 들어간 IC는 상온 또는 고온상태에서 테스트헤드와 접속되어 측정에 필요한 신호(siginal)를 주고 받으며 측정 결과에 따라 양품·불량품이 선별 되는 장비로 자동 테스터기에만 사용되는 장비임 |
| 결정사유 |
ㅇ 본 물품은 측정하고자 하는 메모리 IC를 TRAY에 담아 올려주고 내려주는 LOADER, UNLOADER기능과 IC에 스트레스를 주기 위하여 상온(60℃), 고온(125℃) 처리하는 CHAMBER가 장착되어 있고 측정된 결과에 따라 양품.불량품을 선별하여 주는 기능이 있는 기기로 Memory IC 테스트 시스템에 연결사용 하는 장비임
ㅇ 본 물픔은 테스트시스템과 분리 제시되어 측정이 가능하도록 환경을 조성해 주는 기계적 구동장비 로 보아야 하고, ㅇ 메모리 집적회로 의 성능검사는 테스트시스템에서 양품불량품을 판단하는 것이지 핸들러 자체에서 판단하는 것이 아니므로 기타의 측정 또는 검사용 기기로 볼 수 없는 것임 ㅇ따라서 memory IC handler 는 제시된 상태에서 자체측정 또는 검사 기능이 없으므로 제90류의 물품으로 볼 수 없으며, 제8419호의 고온 및 저온 항온기기와 제8428호의 loader, unloader장치가 동일하우징 내에 영구적으로 장착되어 있고 어떤 부 또는 류의 주에 의하여도 제외되지 않으며 다른호에 특게되지 않았으므로 이를 고유기능이 있는 것으로 보아 이호에 분류하여야 한다. |
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