| 참조번호 | 품목분류과-102991 |
|---|---|
| 시행일자 | 2005-02-01 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 8534.00-9000 |
| 품명 |
Space transformer; Micro Probe Head; METALLIZED SUBSTRATE; IAKJ4F0- 5677A |
| 물품설명 | -기능: 반도체 웨이퍼 측정장비인 Memory Tester의 테스터 헤드에서 발생@§된 전기신호를 프로브 시스템(Prober) 위에 장착된 웨이퍼에 전기적인 신@§호를 인가, 웨이퍼에 형성된 칩의 불량여부를 측정할 수 있도록 해주는 @§Probe Card를 구성하는 Transformer로서 웨이퍼 다이의 진단부위(pad)와 @§접촉하여 메모리 테스터 시스템과 웨이퍼 다이의 전기적인 특성을 측정하@§기 위해 Signal을 전달하는 물품임. @§@§※Probe Card 구성요소: PCB+Interpose+Transformer@§@§-외부형태: 재질이 알루미나 세라믹인 사각형 형태로서 한쪽 면은 내부 @§pattern이 via를 통해 외부에 있는 사각 PAD로 연결되며, 반대 면은 내부 @§pattern이 via를 통해 외부에 있는 회로 pattern과 연결되어 사용되는 물@§품으로서 수입이후 별도 작업을 통해 전면에 Probe pin기능을 하는 물품@§을 부착하고, 후면에는 케피시터를 장착함. 능수동소자는 없으며 회로패턴@§과 단자만 형성되어 있음. @§@§-내부구성: 세라믹 내에 다층배선으로 screen printing된 금속 line이 형@§성되어 있으며 한쪽 면은 pattern간 선폭이 좁고 반대 면은 pattern간 선@§폭이 넓게 구성 |
| 결정사유 |
○ 본건 물품은 반도체 웨이퍼 측정장비인 Memory Tester의 테스터 헤 드에서 발생된 전기신호를 프로브 시스템(Prober) 위에 장착된 웨이퍼에 전기적인 신호를 인가, 웨이퍼에 형성된 칩의 불량여부를 측정할 수 있도 록 해주는 Probe Card를 구성하는 Transformer로서 웨이퍼 다이의 진단부 위(pad)와 접촉하여 메모리 테스터 시스템과 웨이퍼 다이의 전기적인 특성 을 측정하기 위해 Signal을 전달하는 물품임. - 외부형태는 재질이 알루미나 세라믹인 사각형 형태로서 한쪽 면 은 내부 pattern이 via를 통해 외부에 있는 사각 PAD로 연결되며, 반대 면 은 내부 pattern이 via를 통해 외부에 있는 회로 pattern과 연결되어 사용 되는 물품으로서 수입이후 별도 작업을 통해 전면에 Probe pin기능을 하 는 물품을 부착하고, 후면에는 케피시터를 장착하여야 프로브 카드의 구성 물품인 완성품인 Transformer가 되며, 제시상태에서 능수동소자는 없으며 회로패턴과 단자만 형성되어 있고, 내부구성은 세라믹 내에 다층배선으로 screen printing된 금속 line이 형성되어 있음. ○ HS 85류 주 4에 “인쇄회로(printed circuits)란 ①인쇄제판기술 (printing process; 양각, 도금, 식각) 또는 막회로 기술에 의해 ②도체소 자(conductor elements), 접촉자(contacts) 또는 기타 인쇄된 구성부분 (other printed components; 인덕턴스, 저항기, 축전기)만을 ③절연재료 기판(insulating base)위에 형성하여 만든 회로를 말하거나 또는 전기적 인 신호를 발생, 정류, 변조 또는 증폭할 수 있는 소자(semiconductor elements)이외의 것을 미리 정해진 패턴에 따라 상호 접속한 회로를 말한 다”고 규정하고 있음. - 아울러, HS 8534호 관세율표해설서에 “어떤 기초회로나 공회로 는 일반적으로 얇고 동일한 스트립상이나 웨이퍼상(접속단자 또는 접촉장 치를 갖춘 경우도 있음)인 인쇄된 도체소자만으로 된 것도 있다. 회로는 기판의 편면 또는 양면에 인쇄되어 있으며, 수개의 인쇄회로가 층상으로 조합되어 상호 접속된 것(다층회로) 도 있다.”고 설명하고 있음. ○ 본건 물품이 HS8534호의 인쇄회로에 해당하는 지 여부를 살펴보면 인쇄제판 기술인 도금과 식각 및 후막 기술인 스크린 프린팅 방식을 이용 하여 도체소자 및 접촉자를 절연재료 기판인 세라믹 기판위에 형성하여 만 든 다층회로로서 제시된 상태에서는 Probe Pin이나 특정 형태의 케피시터 가 부착되어 있지 않은 인쇄회로의 형태를 갖추고 있음. ○ 본건 물품은 HS 9030호의 반도체 웨이퍼 측정기의 부분품으로 사용 되는 물품이므로 90류에 분류되는 기기의 부분품에 관한 분류규정인 90류 주 2의 규정을 적용하여야 하는 바, 90류 주 2의 규정에 의한 부분품에 관 한 분류순서를 보면 - 이 류의 기기의 부분품과 부속품은 ①부분품과 부속품이 제84류· 제85류 또는 제91류 중의 어느 호(제8485호, 제8548호와 제9033호를 제외 한다)에 속하는 물품인 경우에는 각각 해당 호에 이를 분류하며, ② 기타 의 부분품과 부속품으로서 특정한 기기 또는 동일한 호에 해당하는 여러 종류의 기기(제9010호, 제9013호 또는 제9031호의 기기를 포함한다)에 전 용 또는 주로 사용되는 것은 당해기기와 함께 분류하며, ③기타의 각종 부 분품과 부속품은 제9033호에 분류”하도록 규정하고 있다. ○ 본건 물품은 살펴본 바와 같이 HS 85류 주 4의 인쇄회로에 관한 규정 및 HS 8534호의 인쇄회로의 설명에 부합하는 물품이므로 90류 주 2 “a"의 규정에 의거 HS 8534.00-9000호에 분류하여야 한다. |
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