| 참조번호 | 품목분류과-101430 |
|---|---|
| 시행일자 | 2004-09-07 |
| 시행기관 | 관세평가분류원 |
| 결정세번 | 9012.10-1090, 9027.30-1000 |
| 품명 | Laser Laman Spectrometer ; SERS-NANOFINDER 30 |
| 물품설명 | ㅇ 물품 구성@§ @§ ① Microscope Part (현미경 부문)@§ ② Spectrometer Part (분광기 부문)@§ ③ Control unit (컨트롤 PC 시스템)@§ ④ Optical table (진동 감소를 통해 정밀 측정을 위한 테이블)@§@§ㅇ 물품 용도 @§@§ - WAFER PATTERN 이나 반도체에 쓰이는 각종 무기물 가루를 분석하는데 @§ 이용@§@§ - 비파괴 Depth Profile and 3차원 Imaging, 단분자 검출 및 국부 @§ 구조 해석, 반도체에서의 잔류응력 분석 및 단결정의 결함 분석, @§ 극미량의 분자구조 분석을 위한 분광분석 장치임.@§@§ㅇ 구성요소별 기능@§@§① Microscope Part (현미경 부문, 가격구성비 67%) @§ - 시료의 원하는 위치를 찾거나 확인하기 위한 부분으로 광학현미경과 @§ 원자력간 현미경이 합해진 형태로 주요한 특성은 원자력간 현미경@§ (전체 단가의 70% 정도 차지)에 있음. @§ - 분광시스템에 전용할 수 있도록 제작@§ - 마이크로미터(광학현미경) 또는 나노미터단위(원자력간 현미경)의 @§ 정밀한 분광테스트를 위한 요소@§@§② Spectrometer Part (분광기 부문, 가격구성비 26%)@§ - 시료에 빛을 조사하고, 입사된 광원과 시료와의 상호작용에 따른 @§ 빛을 파장에 따라 분리하여, 일련의 상호작용을 거친 후의 빛의 @§ 특성(세기)을 검출함.@§@§③ Control unit (컨트롤 PC 시스템, 가격구성비 5%)@§ - 전용 S/W가 내장되어 AFM(원자력간 현미경) 및 Spectrometer를 @§ 제어하고 측정결과를 표시@§@§④ Optical table (가격구성비 2%) |
| 결정사유 |
쟁점물품은 크게 두 가지 구성부분(현미경과 분광시스템) 으로 분리할 수 있음. 쟁점물품은 실제 용도에 있어서는 수입물품 모두를 상호연결 또는 장착하 여 실험에 사용하나, 현미경이 없더라도 분광시스템은 분광계로서의 기능 을 수행하는데 문제가 없으며, 다만, 현미경은 좀더 미세한 부분에 대한 정밀분석이 가능하도록 하기 위한 옵션임. 현미경의 경우, 광학현미경과 원자력간 현미경이 함께 결합되어진 것이 나, 단가구성비등을 고려할 때 주요한 특성이 원자력간 현미경에 있는 것 으로 판단됨. 현미경을 제외한 구성요소를 살펴보면 Control unit (컨트롤 PC 시스템) 은 현미경 및 분광시스템을 제어하기 위한 것이고, Optical Table 은 분광 시스템의 분석을 위해 진동을 감소시켜 주는 것으로 동 물품이 없을 경 우 진동에 의해 원하는 분석데이타를 얻을 수 없으므로 분광시스템에서 필 수적인 기능을 수행하는 것으로 볼 수 있음. 따라서, 본 건 물품 중 현미경 부분은 HSK9012.10-1090호에 분류하고 나머 지 부분을 HSK9027.30-1000호에 분류한다. |
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