| 참조번호 | 품목분류과-100404 | ||||
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| 시행일자 | 2004-06-01 | ||||
| 시행기관 | 관세평가분류원 | ||||
| 결정세번 | 9030.90-9090 | ||||
| 변경내역 |
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| 품명 |
Probe card pin; for ULFP(ULtra Fine Pitch) probe unit of FPD(Flat
Pannel Display) |
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| 물품설명 |
-전기적 신호를 보내 LCD 패널 등 평판디스플레이(Flat Pannel Display)
의 불량여부를 검사하는 장치인 Prober와 Tester의 중간에 사용되는 Probe Unit에 부착되어 탐침 기능을 하는 텅스턴 합금제의 needle형태임 -수입이후 별도의 추가 가공없이 Probe unit(Probe card)에 부착되어 사용 될 수 있도록 needle의 끝부분이 정교한 각도로 Bending되어있음. |
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| 결정사유 |
○ 본건 물품은 비금속제의 텅스텐을 기제로 만들어진 바늘형태의 제
품으로서 바늘 끝이 측정기에 적합하도록 특정한 각도로 정교하게 Bending 되어 있어 수입이후 별도의 작업없이 바로 사용할 수 있는 상태의 것임. - 반도체 웨이퍼 또는 반도체 소자가 아닌 LCD 페널 등 평판디스플 레이 제품의 전기적 양을 측정하여 제품의 불량 여부를 검사하도록 해주 는 측정 기기의 한 부분인 Probe Unit(probe card)에 부착되어 - 테스터기로부터 Probe unit를 통해 전달되어 온 전기적 신호를 LCD 등 평판디스플레이 페널에 전달하고, 페널에서 되돌아 오는 신호를 탐 지할 수 있도록 페널에 Contact되는 부분임. ○ 본건 물품은 반도체 웨이퍼 및 반도체 소자가 아닌 LCD 등 평판디 스플레이 페널의 전기적 양을 측정하는 기기의 부분인 Probe unit에 장착 되어 전기적 신호를 주고 받을 수 있도록 특수하게 제작된 물품이므로 90 류 주2의 규정에 의거 HSK 9030.90-9090호에 분류한다. |
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| 이미지건수 | 0 | ||||
| 관련 이미지 |