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위원회결정사항 상세결과

상세결과 항목 : 참조번호, 시행일자, 시행기관, 결정세번, 연도, 회, 품명, 물품설명, 결정사유, 이미지건수, 관련 이미지

참조번호 품목분류2과-36
시행일자 2009-02-03
시행기관 관세평가분류원
결정세번 - 제8486.40-3090호 (제2009년 제1회 관세품목분류위원회 결정)
연도 2009
회 01
품명 - IC 핸들러 ; High Speed IC Handler ; NS-7080W ; JP
물품설명 - IC Tester는 집적회로(IC)에 전기적 양을 인가하여, 인가된 결과에 따라 IC 제품의 양·불량을 측정한 후, 측정결과를 근거로 양품과 불량품을 구별하여 로봇암으로 정해진 트레이에 담는 기능을 수행하나

- 쟁점 IC Handler는 로봇암에 의한 진공흡착방식으로 IC 및 IC Tray를 로딩·언로딩하는 기능, 75°~135°C로 온도 스트레스를 가하는 가열기능(Hot Plate)을 수행하는 기기로, 제시 상태에서는 별도의 Align(정렬)기능은 없는 물품임

ㅇ 주요 구성요소별 기능
①Tray Loader : Singulator, Conveyor Belt, Linear Rail, Stopper 등으로 구성되어 있어, 검사대상 IC들이 담긴 트레이를 로봇암이 장비 내부의 Loading Zone으로 이동시킴
②Input Arm : Pick-Up head, Servo Motor, Cover Guard 등으로 구성되어 있으며, 핸들러 X-Y 평면위에서 해당 자재들을 Loading Zone에서 Hot Buffer 또는 Shuttle로 이동시키는 기능
③Hot Plate(열판) : IC의 전기적 특성검사 이전에 선택적으로 고객이 원할 경우(기후환경 변화에 따른 Load Test 기능), 일정시간 동안의 고온 스트레스를 주기 위한 영역으로, 주어진 시간 이후 Shuttle로 이동시킴
④Input Shuttle : 열판 또는 Loading Area에서 이송된 자재를 Test Head 결합지역의 쳄버까지 이송하는 기능
⑤Unloading Part : 전기적 특성검사를 완료한 자재를 Unloading위치로 이동시키는 Output Shuttle, 불량으로 판정된 자재를 Output Shuttle에서 지정된 트레이에 담는 기능을 수행하는 Output Arm, 트레이에 IC가 모두 적재되면 Empty Tray Arm에 의해 자동으로 새로운 빈 트레이가 공급될 수 있도록 설계된 Unloading Stage로 구성되어 있음
⑥Test Head Area : 테스트기에 의한 IC의 전기적 특성 검사작업을 수행하기 위해 테스트 헤드가 위치한 부분
※기타 : Shuttle에 IC가 정확히 적입되었는지 여부를 확인하기 위한 Y축 레이저 센서와, IC가 위치에 제대로 놓여져 있는지를 확인하기 위한 X축 레이저 센서 장치는 옵션사항임(본장비의 경우 Y축 센서 장치만 설치되어 있음)

ㅇ 작업공정 과정
①Handler에 작업시작 명령을 입력하면 Tray에 적재된 IC를 X, Y Loading & Unloading Robot이 진공흡착 방식으로 Pick-up하여 IC를 이송 Shuttles에 적재함.
②Shuttles로 이송 전에 고객이 요청하는 특정 IC에 한하여 Hot Plates에서 75°~135°C 온도로 스트레스를 가한다
③Shuttles은 IC를 Tester Head가 위치하는 Chamber로 이동시키며 Chamber에 위치한 Workpress는 Test Head에 부착된 Test Socket에 IC를 정밀하게 Loading하고 접촉시킴
④IC를 Test Socket에 적입후, Handler는 작업준비 완료 신호를 Tester에 전송하면 Tester는 전기적 특성 검사를 실시하고 그 결과 정보를 IC핸들러에 전달함.
⑤전기적 특성 검사가 완료된 IC는 이송 Robot에 의하여 Pick-up되어 Output Shuttles에 적재되며 Unloading Area로 이송된 후 검사결과에 따라 양/불량용 Tray에 적재됨
결정사유 - 본 품은 측정하고자 하는 IC와 IC Tray(IC 운반용기)를 올려주고 내려주는 Loader, Unloader와 IC에 온도 스트레스를 가하는 가열장치(Hot Plate)로 구성된 기기로

- 수입 당시 본건 물품의 기능은 IC와 IC Tray를 Loading 및 Unloading하는 이송 기능과, 가혹한 환경하에서 구동 능력이 입증될 수 있도록 구입고객이 요구하는 경우에 한정하여 수행되는 온도 스트레스(Hot Plate)기능이 있는데, 온도 스트레스를 가하는 기능은 구입자에 따른 선택사항(option)에 해당하므로, 보조 기능 또는 선택 기능이라 할 수 있음.

- 품목분류와 관련하여, 제84류 주7은“두가지 이상의 용도에 사용되는 기계류의 분류에 있어서는 그 주용도를 유일한 용도로 취급하여 이를 분류한다”고 규정(용도 관련 규정)하고 있고, 제16부 주3은 “...두가지 이상의 보조기능 또는 선택기능을 수행할 수 있도록 디자인된 기계는...이들 요소로 구성된 단일의 기계로 분류하거나 주된 기능을 수행하는 기계로 분류한다”고 규정(기능 관련 규정)하고 있는 바,

- 온도 스트레스 기능은 보조기능 또는 선택기능에 해당되므로 쟁잼물품은 주된 기능(용도)인 Loading 및 Unloading의 이송 기능(용도)을 수행하는 기계로 분류하여야 함.

- 아울러, 제84류 주9라에서는 “8486호의 표현을 만족하는 기계는 이 표의 다른 호에 분류되지 아니하며, 제8486호에 분류한다”고 규정하고 있고, 제84류 주9다 (3)에서는 “반도체디바이스, 전자집적회로의 권양, 하역, 적하 또는 양하용의 기계를 제8486호에 분류”하도록 규정하고 있으며, 제8479호 해설서 (a),(b)에는 “부·류의 주 및 호에서 특별히 규정하고 있는 경우”에는 제8479호에 분류될 수 없다고 해설하고 있는 바,

- 쟁점물품은 제16부 주3, 제84류 주9(다), 제84류 주9(라) 및 제8486호의 용어를 충족하고 있으므로 제8479호에 분류될 수 없음

- 또한 제9030호 분류와 관련해서는, 관세율표 제16부 총설 해설서(Ⅸ)에서 “실험실에서 사용하도록 또는 화학용 및 측정용의 기기와 관련하여 사용하도록 특별히 제작된 것이라 할지라도...제90류의 측정용 또는 검사용의 기기를 구성하지 않는 한, 이부에 분류된다”고 설명하고 있는 바, 본품은 제90류에 해당되는 측정용·검사용 기기를 구성하는 IC Tester와 같이 제시되지 않았으므로 제9030호에도 분류될 수 없음

- 따라서, 본품은 반도체디바이스, 집적회로의 이송 또는 핸들링에 주로 또는 전용되는 장비이므로 제8486.40-3090호에 분류함
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